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型號:YP-XM

小麥表型測量儀

描述:小麥表型測量儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長、小穗數(shù)、總粒數(shù)和千粒重等指標的測量,可多點快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。

  • 廠商性質

    生產(chǎn)廠家
  • 更新時間

    2024-06-04
  • 訪問量

    664
詳細介紹
品牌優(yōu)云譜產(chǎn)地類別國產(chǎn)

優(yōu)云譜小麥表型測量儀

小麥育種研究中,小麥表型參數(shù)至關重要,小麥表型檢測儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長、小穗數(shù)、總粒數(shù)和千粒重等指標的測量,可多點快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。這些表型參數(shù)小麥品種篩選、小麥產(chǎn)量預測、麥穗動態(tài)發(fā)育、基因定位、功能解析和小麥遺傳育種中發(fā)揮著至關重要的作用。軟件集合多方面功能為一體,一站式解決小麥的表型參數(shù)測量問題。廣泛適用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的小麥研究。

優(yōu)云譜小麥表型測量儀應用廣泛:

1、小麥畝穗數(shù)檢測合適時期: 小麥抽穗期、開花期、灌漿期、成熟前期的小麥。

2、麥穗形態(tài)測量的時期:室內(nèi)考種時期:

3、小麥夾角測量時期:抽穗期、開花期、灌漿期、乳熟期。

4、千粒重測量時期: 室內(nèi)考種時期。

5、小麥株高測量時期: 各個生育時期。

三、技術參數(shù):

測量范圍和誤差: 

1、小麥畝穗數(shù)測量誤差: ≤±5%。 

2、麥穗形態(tài)測量范圍:   5~20cm。

穗長誤差:      ±2%。 

小穗數(shù)誤差:    ≤ 3個。 

3、小麥夾角測量范圍:   0-180°。   

作物粗:        0-5.2cm。 

夾角測量誤差:  +5%。 

4、作物莖粗測量誤差:   ±1%。 

5、千粒重測量誤差:     ±2%。 

6、株高測量范圍:       0.1-1.1m。 

測量誤差:      ±1%。 





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